تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۱ پاسخ تکراری در مدت زمان ۰,۷۳ ثانیه یافت شد.

1. Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits /

پدیدآورنده : Sudarshan Bahukudumbi, Krishnendu Chakrabarty.

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع : Integrated circuits-- Testing.,Integrated circuits-- Wafer-scale integration.,Semiconductors-- Testing.,Integrated circuits-- Testing.,Integrated circuits-- Wafer-scale integration.,Semiconductors-- Testing.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Digital.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Microelectronics.

رده :

TK7874

.

B35

2010

»
1
«

تتم إدارة هذا الموقع عبر مؤسسة دار الحديث العلمية - الثقافية ومركز البحوث الكمبيوترية للعلوم الإسلامية (نور)
المكتبات هي المسؤولة عن صحة المعلومات كما أن الحقوق المعنوية للمعلومات متعلقة بها